半導体テストデータ解析・AI技術の研究開発

私たちは、AIや統計的手法を駆使した半導体テストデータ解析を通じて、製造現場の課題を根本から解決する研究開発に注力しています。

その成果のひとつとして、以下の半導体検査技術について、日本で特許を取得し、米国でも特許出願を進めています。

半導体検査技術に関する特許

特許名称

半導体ウエハの検査装置、半導体ウエハの検査方法及び記録媒体

特許情報

日本登録特許第7898569号

米国出願中

特長

微細な欠陥の高精度検出、歩留まり改善、TAT短縮に寄与

Our Vision

本技術をベースに、さらに複数の応用技術の実用化を進めています。

半導体製造の現場で本当に役立つ技術の提供を通じて、業界の未来に貢献していきます。