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2026. 4. 1
半導体解析対応 ViewToolのライセンス販売開始予定
KAI解析システム
半導体デバイスの大規模テストデータを高速に解析し、品質向上、異常検出、歩留まり改善を支援
主な特徴
高速
大量データでも実用速度で処理。
拡張性
モジュール追加・機能追加が容易。
セキュア
ライセンス管理 / 認証 / アクセス制御に対応。
システム構成
KAI解析システムはKAI ServerとKAI Analysis Toolから構成されています。
KAI Serverは、主にテスタからのテストデータを逐次受信し内部データベースに登録していきます。
KAI Serverでは、データを解析し、テスタの測定異常・不具合、製品の特性異常、装置の異常の早期検知などを行います。
KAI Analysis Toolは、KAI Serverのデータベースに接続し、様々なテストデータ分析を実施します。
使用例

