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株式会社KAI技研
2026年9月1日(火)
半導体検査技術に関する日本特許を取得しました
株式会社KAI技研は、半導体検査技術に関する日本特許を取得しました。 特許名称：半導体ウエハの検査装置、半導体ウエハの検査方法及び記録媒体 特許番号：特許第7898569号
