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株式会社KAI技研

2026年3月23日(月)

2026/4/1より半導体解析対応　ViewToolのライセンス販売開始予定

半導体デバイスの大規模テストデータを高速に解析し、品質向上、異常検出、歩留まり改善を支援する
KAI解析システムのライセンス販売を開始予定です。